We use cookies to improve your experience. By your continued use of this site you accept such use. To change your settings please see our Privacy Policy.
關閉

FIB線路修補

材料分析 (MA)

軟體

二手機台

MA-tek FTP

永續報告書

智財報告書

【MAFT 2025 | H2技術研討會】駕動未來 – 車用感測技術與無人駕駛的驗證挑戰

2025/09/24

 

MAFT H2

駕動未來-車用感測技術與無人駕駛的驗證挑戰

在邁向無人駕駛的路上,汽車早已不再只是交通工具,而是融合感測器、AI 晶片、複合材料與嶄新製程技術的移動智慧終端。這場技術競賽,不僅比拚創新,更是對「可靠性」的極限挑戰。

隨著自駕車與智慧汽車快速成為新常態,感測技術、材料創新與模組驗證正晉升為驅動車輛智慧化的核心動能。面對技術演進日新月異,企業如何在穩健中突圍、搶得市場先機?

9 月 24 日,閎康科技誠摯邀請您出席 2025 年 MAFT 研討會!本屆以「駕動未來」為主題,聚焦車用感測與模組驗證,從失效分析、材料研發、車用模組驗證到高階分析,匯聚四大關鍵領域的第一線技術洞察與實戰經驗。


讓我們攜手業界先進,深入剖析從材料到模組、從檢測到驗證的關鍵技術路徑,共探智慧駕駛的下一個突破口。

 

報名網址:https://forms.office.com/r/DX8CdktmYe

 


貼心提醒:因現場座位有限,若報名人數已滿,我們將通知您改為線上參與,敬請見諒,感謝您的理解與支持。

 

活動議程

時間

講者

主題

大綱

 
09:30~10:00    報到
10:00~10:20    開場&貴賓致詞&大合照
10:20~10:40  

陽明交大 電子研究所

陳冠能 教授

AI輔助矽晶圓對矽晶圓接合的高對位精度技術研究 
10:40~11:00  

陽明交大 電子研究所

吳添立 教授

應用於電動車之高電壓(>1.2KV)氮化鎵功率元件可靠度及失效機制分析 
11:00~11:20  

陽明交大 光電工程系

郭浩中 教授

磷化銦雷射與矽光子整合

11:20~12:00

海報展示暨交流討論

12:00~13:00

午餐餐敘

13:00~13:20

報到

13:20~13:30

開場

13:30~14:30

故障分析事業群

林于騰 處長

Total-solution FA Procedure and Case study of Power & Compound semiconductor

  • FA Procedure
  • Total-solution FA Procedure
  • Level I: Non-destructive Analysis
  • Level II: Electrical Failure analysis
  • Level III: Physical Failure Analysis
  • Case Sharing 

14:30~15:30

清大半導體學院

方維倫 教授

壓電薄膜於MEMS的應用

壓電材料被視為一種智慧材料,已廣泛應用於超音波探頭、精密定位、聲納、振動感測器、蜂鳴器等許多領域。近年來,隨著多種製程技術的開發,壓電薄膜已成為推動微機電系統(MEMS)致動器發展的關鍵技術之一。本演講首先將簡要介紹壓電薄膜的基本原理與特性,並說明如何進行材料性質的表徵與分析。接著,將透過幾個具代表性的應用案例,展示壓電薄膜在先進MEMS裝置中的潛力與成就,包括用於自駕車的光達(LiDAR)、智慧汽車的抬頭顯示器(HUD)、以及微型揚聲器等。最後,將對壓電薄膜在MEMS應用中的未來發展方向與挑戰提出展望,期望啟發更多智慧材料與智慧裝置的創新研究與應用。

15:30~16:00

交流&中場休息

16:00~17:00

可靠度分析事業群

張筌鈞 副處長

自駕車時代的關鍵—車用模組驗證解析與桃戰

隨著自駕車技術的快速演進,車輛不再只是交通工具,更是成為高度智慧化的移動平台。從感測器到控制單元、從通訊模組到人工智慧(AI)晶片,每一個車用模組都扮演著不可或缺的角色。而在這場技術革命中,「模組驗證」成為確保安全、穩定與可靠性的關鍵環節。

 

現階段車用模組驗證在AEC-Q驗證家族中分成多晶片模組Multichip Module(MCM)與光學多晶片模組Optoelectronic Multichip Module (OE-MCM)兩大類,分別參考AEC-Q104AEC-Q102-003等規範。驗證架構則分成一般共通性驗證與特殊驗證兩個部分。由於車用模組型態種類繁多,常遇到有些測試項目的適用性。因此極需要像閎康科技以專業驗證經驗,量身訂做符合規範的驗證方案,讓車用模組快速且安心地跨入智慧駕駛新時代!

17:00~18:00

材料分析事業群

褚耕頡 經理

高階材料分析于車用電子的分析應用

主題為「高階材料分析於車用電子的分析應用」,內容涵蓋車用半導體市場的發展趨勢,以及穿透式電子顯微鏡(TEM)在先進製程與功率元件中的關鍵角色。簡報說明TEM技術的基本原理、三維觀察方式(平面與橫截面)、ALD鍍層技術、球面像差校正、影像自動量測、EBSD與TKD晶粒分析等應用,並針對IGBT與SiC功率器件提供具體分析案例。Ma-tek亦展示其整合高解析儀器、AI自動量測與專業分析能力,強調可提供客製化、精確且高效率的分析解決方案,協助提升車用電子元件的品質與可靠度。

17:50~18:00

活動抽獎& 賦歸

  

 

 

常見問題

Q1.會提供講師簡報或演講影片嗎?

A.由於簡報與影像屬於講師的智慧財產,無法提供個別檔案內容。若想了解更多相關資訊,歡迎關注「閎康材料學院」

 

Q2.錯過報名時間 (9/17),還可以追加報名嗎?

A.沒辦法喔,因為後續作業都需要時間,9/17 後即不再接受報名。

 

Q3.可否只參加特定講師的演講時段?

A.為了避免演講過程無法即時處理客戶連線,建議於開場前即先登入,至有興趣的階段再開啟畫面!

 

Q4.我對講師演講內容有興趣或疑問,可以跟哪個窗口聯繫呢?

A.建議於該場演講的QA時段與講師現場互動,線上參加的客戶可以留言您的疑問,由我們代為發問;或點選『舉手』,我們會幫您開啟音訊進行發問。也歡迎客戶將詢問內容提列給閎康業務,於演講當天由主持人代為提問喔。

 

Q5.如何知道報名成功,可以跟哪個窗口聯繫呢?

A.我們將於 9 月 19 日發送郵件通知您參與方式(現場或線上)。如有任何疑問,歡迎來信至 marketing@ma-tek.com,或聯繫您的業務代表,謝謝。

 

貼心提醒: 因現場座位有限,若報名人數已滿,我們將通知您改為線上參與,敬請見諒,感謝您的理解與支持。

活動時間

2025/09/24 (三) 10:00~18:00

活動地點

閎康科技 矽導實驗室Show Room / 線上

活動費用

Free