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PEM-InGaAs

InGaAs EMMIと従来のEMMI(Si CCD)の検出原理は、電子-正孔再結合と熱キャリアから発生する光子を検出する点で同じですが、両者の光子検出器の材料が異なるため(InGaAsとSi)、検出する波長範囲も異なります。InGaAsはバンドギャップが小さいため、検出可能な波長が比較的長く、範囲は約900nmから1700nmの間で、すでに赤外線の範囲に入っています。デバイスの製造プロセスが縮小するにつれて、動作電圧も低下し、熱キャリアのエネルギーも小さくなるため、熱キャリアから発生する光の波長も長くなり、赤外線の範囲に入ります。したがって、InGaAsは先進的なプロセスにおける明るい点の位置決めのニーズに非常に適しています。さらに、InGaAsの検出感度はCCD EMMIよりも高いため、より良い明るい点の検出能力を得るために、InGaAsは優れた選択肢です。

分析アプリケーション

CCD EMMIの応用に類似していますが、CCD EMMIよりも以下の利点があります:

  1. 低電圧動作のIC検査に対して、より迅速なホットスポットの位置決めを提供します(漏れ電流が発生する波長が長い)。
  2. 赤外線検出(高量子効率)の高感度
  3. ICの背面の位置分析に関して、赤外線はシリコン基板に対する透過率が高い。
  4. ハイライト検出期間(積分期間)中、ハイライトの表示はリアルタイムであり、CCD EMMIのように積分が完了してからハイライトが表示されるのではありません。

 

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01.16
2026
本次研討會以「シリコンで未来を探る:AI × シリコンフォトニクスのスマートな機会探求」をテーマに、AI、高速計算、シリコンフォトニクス、先進パッケージ技術の融合が計算効率をどのように再定義するかを強調し、「スマートな機会探求」の概念を用いて、これらの重要な技術を通じて未来の技術発展の最良の機会を示し、解析します。詳細情報:https://www.matek.com/zh-TW/Seminar/detail/all/20250327
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