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変位測定

ひずみ測定

応力測定(Strain Measurement)は、機械変形を定量的な工学データに変換するの重要な技術であり、使用されます客観的に量化された回路基板(PCB/PWB)が、組み立て、テスト、実際の操作過程で受ける機械的変形の程度PCBの構造変形がSMTはんだ接合部の信頼性に与える影響を直接反映することができ、広く応用されているボードレベル信頼性(Board Level Reliability, BLR)評価中。

 

機械工学において、構造物は外力の作用により形状が変化します。この変形は引張力、圧縮力、せん断力、曲げ力、またはねじり力から生じる可能性があります。電子製品においては、PCBの曲がりや反りが機械的応力をSMT部品やはんだ接合部に伝達し、ひび割れ、疲労、または電気的故障を引き起こす可能性があります。

 

応力測定の目的は、このような肉眼では見えない微小な変形を定量的な工学データに変換する、はんだ点の信頼性分析と設計リスク評価の基準として、MA-tekはIPC国際規格に従い、精密なひずみ測定と電気監視技術を組み合わせて、顧客が製品設計、プロセス、信頼性検証の段階で、リスクを即座に把握し、全体的な基板レベルの信頼性を向上させるのを支援します。

変形とは何ですか?
ひずみ(Strain)の工学的定義と物理的意義
図|構造物が外力の作用下で伸長と圧縮変形を生じる示意

ひずみ(Strain, ε)は、外力の作用下で構造物に生じる相対変形の程度構造物が力を受けた後の伸び(または圧縮)量と元の長さの比率であり、ひずみは「単位長さの変形比率」であるためひずみ自体は無次元の比率である。、一般的に微小ひずみ(με、マイクロひずみ)で表される。

 

ひずみの公式|構造変形量の定量的表現

  • ΔL構造物が力を受けた後の長さの変化量

  • L構造物の元の長さ

  • 公式は引張ひずみ、圧縮ひずみを説明するために使用でき、板レベルの曲げおよびはんだ点の応力分析の基礎計算方法として機能します。
測定方法と目的
PCBの変形挙動をひずみゲージで定量化する
図|ひずみ測定配置の概念図で、ひずみゲージ、変位センサー、荷重測定の統合構造を示しています。
 

実際の基板レベルの信頼性テストでは、ひずみ測定は通常、ひずみゲージ(Strain Gauge)PCBの特定の位置に貼り付けて、外力や曲げ荷重下での回路基板のリアルタイムのひずみ変化を測定するためのものです。測定システムは通常、次のものを含みます:

  • ひずみゲージ(Strain Gauge):PCB表面の微小な変形を感知する

  • 変位センサー(Displacement Transducer):基板の曲げ変位を測定する

  • 荷重元(Load Cell):加えられた外力の大きさを測定する

  • データ取得システム(DAQ):ひずみ、変位、力の変化を同期記録する

 

これらの測定データを通じて、構築できます。PCBの曲げ量、ひずみ分布とはんだ点の力の対応関係

  • 測定目的|PCBの変形とはんだ接合部の失敗との関連性を確立する

    ひずみ測定の核心的な目的は:

    • SMT部品がPCBの組み立て、テスト、操作過程で受けるひずみレベルを定量化する

    • 異なる基板の曲げ条件下におけるはんだ接合部の応力状態とリスクを評価する

    • PCBの変形量とハンダ接合部の失敗に関する臨界ひずみ閾値を確立する

    • 基板レベルの落下、曲げ、温度循環などの信頼性試験の重要な補助測定

    ひずみデータを通じて、「構造変形」と「はんだ点の信頼性」の間に追跡可能で比較可能なエンジニアリングモデルを構築することができる。

  • 規範依據與失效判定|IPC-9704 應變量測標準

    ひずみ測定は一般的にIPC-9704規格に基づいて実施され、この規格では次のように定義されています:

    • ひずみゲージの貼り付け位置と方向

    • 測定方法とキャリブレーション方法

    • ひずみデータの取得と分析基準

    基板レベルの信頼性アプリケーションでは、ひずみ測定は通常、はんだ接合部のリアルタイム抵抗監視と併せて行われます。テストプロセス中に、はんだ接合部の抵抗値が初期値に比べて20%増加した場合、はんだ接合部が失敗したと判断され、当時のPCBのひずみレベルを追跡することができ、失敗の臨界条件の判断基準となります。

応用価値
ボードレベルの信頼性設計とリスク管理の核心ツール

変形測定は電子産業において高い実務的価値を持ち、主に以下のような用途に使用されます:

  • SMTパッケージングとはんだ接合の信頼性リスク評価

  • 基板の落下、曲げ、循環曲げ試験の補助測定

  • PCBの構造設計と厚さ選択の最適化

  • 製程操作(如圧着、ロック)によるはんだ点への影響分析

  • 設計ひずみ限界(Design Strain Limit)

ひずみ測定を通じて、製品設計と量産前に潜在的なはんだ接合の失敗リスクを事前に把握することができます。

オンライン登録
01.16
2026
本次研討會以「シリコンで未来を探る:AI × シリコンフォトニクスのスマートな機会探求」をテーマに、AI、高速計算、シリコンフォトニクス、先進パッケージ技術の融合が計算効率をどのように再定義するかを強調し、「スマートな機会探求」の概念を用いて、これらの重要な技術を通じて未来の技術発展の最良の機会を示し、解析します。詳細情報:https://www.matek.com/zh-TW/Seminar/detail/all/20250327
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