感応結合プラズマ質量分析計
ICP-MS（誘導結合プラズマ質量分析法）
感応結合プラズマ質量分析計（ICP-MS）は、高感度の元素分析技術であり、主に試料中の微量元素と同位体組成ICP-MSは高温プラズマを利用して試料を原子化し、イオン化し、質量分析計を通じてイオンの質量電荷比（m/z）に基づいて分離と検出を行い、複数の元素を同時に分析し、極めて低い検出限界を持っています。
ICP-MS 具有高感度、迅速な分析、複数元素の同時測定、広い動的範囲などの利点があり、その検出限界はppt（10⁻¹²）等級そのため、微量元素や微量汚染物質の分析に特に適しており、分析プロセスでは、液体サンプルは通常、霧化器を介してエアロゾル状に変換された後、プラズマトーチに導入されます。約6000–10000 Kの高温プラズマ中で完全に原子化され、イオン化され、帯電したイオンが質量分析器に入り、質量電荷比に基づいて分離され、検出器によって信号強度が測定され、最終的に試料中の元素の種類と濃度情報が得られます。
技術的特徴
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非常に高い感度（pptレベルの検出能力）
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複数の元素を同時に分析できます
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元素同位体分析を行うことができる
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分析速度が速く、試料の必要量が少ない
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多種の液体や溶解した試料に適用可能
分析アプリケーション
材料の純度と微量金属分析
材料中の微量元素含量を分析し、材料の純度と品質管理を評価するために使用されます。
医薬品とバイオメディカルサンプルの元素分析
薬品、生物試料または人体組織中の元素分析に使用できる、例えば薬物代謝および毒性研究。
食品と農産物の安全検査
食品中の重金属や微量元素の含有量を分析し、食品の安全性と品質を確保します。
水質と環境監視
飲用水、地下水、工業廃水中の微量元素を検出し、環境モニタリングおよび法規制適合性検査を行う。
土壌と環境汚染分析
土壌と堆積物中の重金属元素の含有量を分析し、環境汚染と生態リスクを評価する。
半導体材料とウェーハ汚染分析
ウェハ、プロセス材料、または化学薬品中の微量金属汚染を検出するために使用され、半導体プロセスの品質管理を支援します。
重金属と微量元素の検査
極低濃度の金属元素を分析できる、例えばPb、Cd、Hg、Asなど、環境や製品の安全検査に広く応用されています。
機械の種類
Agilent 7700x ICP-MS
(MA-tek 配置 Agilent 7700x 感応結合プラズマ質量分析計（ICP-MS）、高感度の微量元素および同位体分析が可能です。ICP-MSは高温プラズマを利用してサンプルを原子化し、イオン化し、質量分析計を介してイオンの質量対電荷比（m/z）に基づいて分離および検出を行い、同時に複数の元素を測定し、極めて低い検出限界を持っています。
Agilent 7700xは、高効率プラズマシステムと衝突/反応セル（Collision/Reaction Cell）技術を採用しており、干渉信号を効果的に低減し、微量元素分析の精度と安定性を向上させます。半導体材料、環境サンプル、バイオサンプルなど、さまざまな分析アプリケーションに適しています。
システムの特徴
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pptレベルの検出限界は、超微量元素分析に適しています。
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多元素同時分析能力
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衝突/反応セル技術は多原子干渉を低減します
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分析速度が速く、感度が高い
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多様な液体および溶解試料に適用可能
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