部品が漏電、短絡、または機能障害を起こすとき、問題はしばしば内部の電気分布の異常に起因します。高解像度電気分析技術を通じて、半導体部品の中を深く解析することができます。キャリア分布、ドーピング濃度およびPN接合構造有効に電気的な故障の根本原因を特定する。
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