特許分析鑑定

先進電子製品の回路配置技術とプロセステクノロジーにおいて、特許権の侵害鑑定はハイテク企業が知的財産権を保護するために必要な手段であり、通常、請求時に必要な戦略的分析コンサルティングや技術鑑定報告書の作成に関わります。MA-tekはこの分野で豊富な経験を持ち、顧客に対してこの種の分析鑑定サービスを直接提供することができ、顧客が指定した法律事務所と共同で協力することも可能です。

第三者鑑定報告

MA-tekは2004年6月にISO9001およびIECQ17025の国際認証を取得し、合格した専門分析ラボとして、材料分析、電気的故障分析、ESD静電テスト、信頼性テストなどの専門分野で国内外の顧客から非常に高い評価を得ています。私たちの優れた技術チームは特定の事象に対して専門的な独立分析を行い、完全な検証分析を通じて、ISO /IECQの要求に基づく報告書形式で、公正で信頼できる分析報告書を発行することができます。これは、商業責任の定義に関する法的文書として使用されることができます。

分析実験室の計画と設立

MA-tekは、顧客の実際のニーズに合った内部実験室を構築することができます。プロジェクトの委託を受けた初めに、企業の専門分野に適した実験室の計画提案を提供します。これには、実験室の設備、評価、調達、設置スケジュールの計画、技術者の操作トレーニング、実験室管理コースが含まれます。

分析技術移転

MA-tekは、特定の分析技術の確立に関して顧客を歓迎し、技術移転プログラムを委託します。私たちは、一連の教育訓練コースと実際の機器操作訓練を提供し、技術移転の基礎として標準操作手順などの関連技術文書も提供します。

5. トレーニングコース

MA-tekは、顧客が関連する分析技術を理解するために、さまざまなトレーニングコースを提供し、顧客の問い合わせや予約を歓迎します。コース内容は大きく以下のいくつかに分かれています：

• 材料分析技術簡介：内容にはOM / SEM / FIB / TEM / SIMS / EDX / Augerなどの関連材料分析技術の紹介が含まれています。
• TEM試料調製技術：内容にはSi/TFT/III-V族試料の調製、P-V TEM試料の調製、実習が含まれます。
• TEMのイメージングと操作原理：内容には、機器の紹介とメンテナンス、基本原理の紹介、TEM画像イメージング技術、EELS、EDX成分分析の紹介が含まれます。
• SEMのイメージングと操作原理：内容には、機器の紹介と保守、基本原理の紹介、TEMイメージング技術、EDX / WDX / BSE分析の紹介が含まれます。
• 信頼性テストの紹介：内容にはテスト機器の紹介、テスト原理および関連するテスト基準が含まれます。
• FIB分析の概要と応用：内容には、機械の原理、回路修復技術の紹介と応用、FIBの故障分析技術への応用と制限が含まれます。
• 故障分析技術紹介：内容には故障分析機器の紹介（EMMI / OBIRCH / InGaAS / HP4156C / C-AFM...など）、機器の原理、電気的および物理的分析技術の概要、故障分析のプロセスが含まれています。故障分析案件の技術的検討。
• 特定産業の応用事例紹介 (IC / TFT / LED / ナノ材料 / 太陽電池 / パッケージング)