材料分析（Material Analysis）は研究材料の構造、成分および性質詳細情報を得るための科学と技術の分野、その主な目的は、製造、開発、故障排除の過程における材料の挙動を理解することです。MA-tekは国内で最も充実した材料分析電子電機実験室であり、コンサルティングとアドバイザリーを組み合わせて、正確かつ適切にさまざまな検査サービスを提供し、顧客の電子製品の研究開発や新材料構造、新プロセスの開発時の分析ニーズを満たします。主な機器項目には以下が含まれます：

• Field Emission Transmission Electron Microscopes ( FE-TEM )
• Focused Ion Beams (FIB) 回路編集および断面加工のためのEBSD、CLを搭載しています。
• Augerによるフィルム組成分析または汚染分析。
• SIMS（磁気セクター、四重極）/ TOF-SIMS
• Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM)
• X線光電子（XPS）有機及び無機成分分析のための

MA-tekは多様な材料分析技術を統合しており、原子レベルの画像解析からpptレベルの微量成分検出までをカバーしています。サンプルのタイプと分析のニーズに応じて、構造観察、元素同定、表面分析、化学成分検査などの完全なソリューションを提供します。