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LED製品寿命試験

LED製品寿命試験(LED Lifetime Test)は、発光ダイオードが長時間運用される際の光学特性と信頼性の変化を評価する重要な検証プロセスです。LED技術と応用が成熟するにつれて、自動車用照明、ディスプレイパネル、スマート照明から屋外光電設備に至るまで、各分野で品質と寿命に対する要求がますます厳しくなっています。製造プロセスと材料の革新が進む中、異なる環境や操作条件下でも安定した性能を確保するために、業界では一般的にAEC-Q101車載信頼性基準を主要な基準として採用しています。 一般的に電圧を制御因子とする電子部品とは異なり、LEDは電流制御方式で動作し、静電気放電(ESD)熱管理設計に非常に敏感です。熱放散が不良だと結晶温度(Tj)が上昇し、光衰退を加速させ寿命を短縮します。したがって、LED寿命試験の核心目的は、実際の使用状況下での複数のストレス条件を模擬し、その信頼性と使用寿命を検証することにあります。
LEDの寿命と信頼性テスト項目
LEDの寿命と信頼性テスト項目

MA-tekはLEDコンポーネントおよびモジュールに対して、包括的な信頼性試験項目を提供しています。これには、

  • 静電防護試験(ESD):HBMおよびCDMモードを使用して、製品の静電気衝撃に対する耐性を検証します。

  • 湿度感度レベル試験(MSL)SMDパッケージのリフロー工程における耐湿性能の評価。

  • 熱抵抗(Θth)と結晶温度の推定(Tj)顧客の熱設計性能を分析し、LEDの使用寿命を延ばす。

  • 点亮寿命試験異なる電流、温度、湿度条件下で連続点灯し、光衰と寿命のパフォーマンスを評価します。

  • 脈衝寿命試験(IOL)迅速かつ厳しい加速試験で、実際のスイッチ操作状態をリアルにシミュレーションできます。

  • 環境老化試験屋外用途に対して塩霧または酸性ガス腐食試験を実施し、パッケージと構造の信頼性を検査します。

  • 機械応力試験プル・プッシュ力、振動および衝撃などの機械的負荷を模擬したテストを含む。

  • 防水防塵テスト(IP等級)終端モジュールの密封構造に対する防護等級の検証を行う。

  • 寿命予測分析活性化エネルギー(Activation Energy)を利用してモデルを計算し、実際の寿命を推定します。

  • その他の試験:はんだ性、加圧鍋(PCT)、耐熱などの補助評価項目を含む。

 

MA-tek(MA-tek)は、単に提供するだけでなくLEDの信頼性と寿命試験サービス更導入積分球光学測定システムテスト前後で光束、色温度、発光効率の変化を比較し、顧客が性能の劣化傾向を迅速に把握できるよう支援します。同時に構築します大型恒温恒湿試験設備LEDモジュールの長期安定性検証を行い、厳しい環境下でも高い信頼性と安定した出力を確保します。

よくある質問
よくある質問
Q1. LED製品はどのような測定方法を提供できますか?
A. LED製品に関して、ポイントボールシステムが構築されており、国内の公正な機関と定期的な校正を行い、測定の標準性と一貫性を維持しています。実施可能な測定サービスには以下が含まれます:

LED光束_ルーメン(Lm)の測定
LEDスペクトルの測定
LED色座標CIE 1931(XY)およびCIE1976(U'V')の測定
Q2. AEC Q102を実行できますか?
A. はい、AEC Q102規格には特にガス腐食項目が新たに追加されました:単一(H2S)および4種類の混合ガス(FMG)、結露試験(DEW)、パルス試験(PLT)項目があり、関連する機器が案件に対応可能です。
Q3. 高ワット数製品はどのように冷却しますか?
A. 高ワット数の製品に対して、水冷循環システムを通じて高ワット数駆動によって生じる熱の蓄積や放熱不良の問題を効果的に解決します。
Q4. テストまでのパッケージングのワンストップソリューションを提供できますか?
A. 顧客からウェハまたはすでにパッケージ化された試験サンプルを受け入れ、Bonding / Wire Bonding / SMTプロセスを通じて関連試験の前準備作業を行う必要があります。また、封止樹脂および蛍光粉材料は各社のノウハウに関わるため、このようなサービスは提供しません。
Q5. LM80テストを実施できますか?
A. 可能です、LM80試験は高温項目の3つの温度ポイントを要求します:55、85、3つ目の温度は任意の条件(一般的には105℃)で、テストポイントの温度は要求温度より2℃低くてはいけません、環境温度は要求温度より5℃低くてはいけません、測定時間は最低6000時間で、1000時間ごとに測定します。
オンライン登録
01.16
2026
本次研討會以「シリコンで未来を探る:AI × シリコンフォトニクスのスマートな機会探求」をテーマに、AI、高速計算、シリコンフォトニクス、先進パッケージ技術の融合が計算効率をどのように再定義するかを強調し、「スマートな機会探求」の概念を用いて、これらの重要な技術を通じて未来の技術発展の最良の機会を示し、解析します。詳細情報:https://www.matek.com/zh-TW/Seminar/detail/all/20250327
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