光通訊與矽光子
光通訊與矽光子技術已成為 高速、低延遲資料傳輸 的關鍵,並廣泛應用於 資料中心、HPC(高效能運算)、AI 系統、5G 通訊、自動駕駛、消費性電子與生醫感測 等領域。
矽光子元件透過在 矽晶片上整合光學與電子元件,能在更小尺寸下實現 更高頻寬、更低功耗與更高整合度。特別是 共封裝光學(CPO, Co-Packaged Optics) 技術的導入,使光模組能與交換晶片直接封裝,縮短訊號距離、降低能耗並提升整體系統吞吐量。
然而,矽光子元件尺寸微小、界面複雜,光路對位、鍍膜厚度、材料堆疊與封裝應力 都會影響插入損耗、訊號形變與長期穩定性。
閎康科技提供 奈米級結構剖面、光學薄膜參數量測與封裝熱/應力行為分析,協助客戶掌握 光路–材料–封裝 的耦合關係,支援產品從設計驗證、製程優化到可靠度評估。
| 服務方向 | 關注重點 | 適用情境 | 閎康協助 |
|---|---|---|---|
| 矽光路徑與金屬結構界面分析 | 波導、耦合器、金屬接點結構與材料差異 | 光損耗、耦合效率不足 | FIB-TEM + EDS 截面與元素分佈重建 |
| 光學鍍膜厚度與均勻性評估 | 鍍膜折射率、厚度、均質性 | 訊號衰減、反射不穩定 | XRR、Ellipsometry 光學參數量測 |
| 雷射模組接點與封裝品質觀察 | 反射層、鏡面對準、封裝變形 | 光點偏移、光功率下降 | IR 影像、3DX-Ray、封裝剖面對照分析 |
| 封裝翹曲與應力行為模擬 | 熱膨脹差異、波導位移 | 長期可靠度與光耦合穩定性 | 翹曲/應力模擬 、 結構疲勞評估 |
常見問題
Q1. 為什麼矽光路徑與金屬線路界面容易造成訊號損耗?
A . 材料折射率差異與結構對位不精確會影響光耦合效率。
Q2. 鍍膜厚度偏差會如何影響光元件性能?
A . 將改變反射/折射條件,導致插入損耗上升或輸出不穩。
Q3. 封裝後光點偏移或輸出功率降低可能源自什麼?
A . 封裝翹曲、鏡面偏移或應力造成光路變形。
Q4. 矽光子模組能否在研發階段進行先期風險評估?
A . 可以,封裝-光路耦合模型可提前確認設計裕量。