奈米材料已廣泛應用於生醫製藥、化妝品與食品科技領域。奈米粒子的粒徑、形貌、分散狀態與晶體結構，將直接影響產品的功能性、安全性與穩定性。因此，透過高解析電子顯微鏡與專業分析技術，對奈米材料進行精確表徵與品質評估，已成為奈米產品研發與品質管理的重要環節。

分析技術

K-kit 奈米溶液分析

閎康所開發的專利新型電子顯微鏡液態樣品槽 K-kit 技術應用於觀測奈米產品中個別成份奈米顆粒之種類、形狀分布、粒徑分布、顆粒聚集/團集狀態及顆粒濃度等，提供符合法規趨勢的完整奈米顆粒形態定量分析結果。

K-kit 是閎康公司應用於 TEM 的液態樣品製備專利技術

技術原理

K-kit 樣品槽是一種閎康新型專利樣品製備技術，其晶片本體由微機電系統 (MEMS) 技術形成，超薄設計、與各類穿透式電子顯微鏡相容，它可以在電顯高真空環境下，保持樣品在原液中觀察。

K-kit 的應用可實現高品質之液態樣品電顯觀測，其無論針對液態樣品在最終產品的實際樣態、或是一般乾燥樣品，皆可直接觀察、分析奈米物體與其群聚團聚現象。

K-kit 使用直徑 3mm 的標準銅環承載，可適用於所有廠牌的 TEM 設備進行觀測。

使用 K-kit 與傳統銅網作法的比較結果如圖所示，銅網上的 Slurry 乾燥樣品團聚現象嚴重；而載入乾燥模式 K-kit 的結果，粒子均勻分散，保持其在原液中的原始分布狀態。

 

• 濕式：液態樣品可以直接注入，密封後即可上機觀察。(少量液體樣品保留於通道內) 
• 乾式：樣品經過真空乾燥處理，不影響奈米顆粒分布，大幅提高影像解析度。(通道內的液體已完全乾燥)