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Composition & Material Analysis
成分與材料分析

成分與材料分析是產品研發、品質驗證、失效分析及製程優化的重要基礎,透過高靈敏度的表面分析、微區分析與材料結構鑑定技術,可針對金屬、半導體、陶瓷、高分子、薄膜、鍍層及複合材料,深入解析其元素組成、化學鍵結、氧化狀態、晶體結構、相組成與材料分布。

 

藉由精準的元素分析與化學結構分析,不僅能確認材料配方及成分是否符合規格,也可進一步辨識微量污染物、異常析出物、腐蝕產物、界面反應、材料劣化及製程殘留等問題。針對局部缺陷或微小異常區域,微區材料分析技術亦可鎖定特定位置進行檢測,協助釐清材料成分差異與產品異常之間的關聯。

 

完整的成分與材料分析結果,可作為原物料驗證、異物鑑定、競爭品分析、製程條件調整、產品可靠度評估及失效原因判定的重要依據,協助企業快速找出問題根因,降低試誤成本,提升產品品質、製程穩定性與研發效率。

  • 應用場景

    • 表面污染與異物分析(Organic / Metal contamination)
    • 薄膜材料成分與層間擴散分析
    • 化學鍵結與氧化態判定
    • 晶體結構與應力/應變分析
  • 核心價值

    • 高靈敏度元素分析(ppm~ppb 等級)
    • 可解析表面與深度方向成分分佈
    • 建立材料失效與製程異常的根因依據
Service Examples
服務項目

SIMS 二次離子質譜儀

XPS X光光電子能譜儀

XRF X射線螢光光譜儀

AES 歐傑電子能譜儀

FTIR 傅立葉轉換紅外光譜

HRXRD 高解析X光繞射分析儀

線上報名
08.28
2026
本次研討會以「晶動未來:從記憶體、矽光子到量子運算的下一波技術革命」為主題。

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