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Package Structure

封裝結構與外觀分析

封裝結構與外觀是判斷製程品質的第一道關卡。透過外觀、尺寸與結構量測,可及早發現封裝變形、翹曲或結構異常,避免問題進一步擴大。

 

Optical Microscope

 

IC-Testing-3

 

Non Contact 3D Surface Profiler

 

Applications 

  • Flatness, surface roughness, step height, deformation and waviness
  • 2-D and 3-D profile

 

Advantages 

  • Accurate, fast and no sample preparation is needed
  • An extremely wide range of surface heights is capable to be profiled. (~180μm)
  • The benefits of optical surface profilometry include
    - Excellent height resolution
    - High measurement speed
    - Ability to perform non-contact measurements of delicate surfaces

 

Surface defects characterization

  • (a) OP;(b) SEM;(c) LED ;(d) Au Bump

  • 100 μm Bump Profiler

  • 20 μm Bump Profile

SEM Imaging

 

 

線上報名
08.28
2026
本次研討會以「晶動未來:從記憶體、矽光子到量子運算的下一波技術革命」為主題。

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