Zeta 電位分析儀

奈米粒子或膠體粒子在溶液中通常會因表面官能基或離子吸附而帶有電荷，

使粒子周圍形成一層由離子組成的電雙層（Electric Double Layer）。

電雙層可分為靠近粒子表面的固定層（Stern Layer）與外側的擴散層（Diffuse Layer）。

在擴散層中存在一個假想的界面，稱為滑動平面（Slipping Plane），其位置代表溶液中粒子與周圍液體相對運動時的邊界。

此平面上的電位即定義為 Zeta 電位（Zeta Potential）。位於滑動平面內側的離子會與粒子一起移動，

因此 Zeta 電位可反映粒子在溶液中的實際表面電性與分散行為。

Zeta 電位會受到多種因素影響，包括粒子的表面化學性質、溶液 pH 值、電解質種類與濃度等，

因此常被用作評估膠體系統或奈米材料分散穩定性的重要指標。一般而言，Zeta 電位的絕對值越大，

粒子之間的靜電排斥力越強，系統分散性與穩定性也越高。

在量測過程中，Zeta 電位分析儀會對樣品施加外加電場，使帶電粒子在溶液中產生電泳運動（Electrophoresis）。

儀器利用雷射都卜勒測速技術（Laser Doppler Velocimetry, LDV）量測粒子的移動速度，並計算其電泳移動率（Electrophoretic Mobility）。

最後再透過 **Henry 公式（Henry's Equation）**將電泳移動率轉換為 Zeta 電位值。