謝詠芬董事長受邀非凡電視《台灣大時代》專訪 解析先進製程與CPO檢測關鍵
閎康科技董事長謝詠芬日前受邀非凡電視《台灣大時代》節目專訪,與主持人張振驊深入交流先進製程、半導體檢測,以及矽光子與共同封裝光學(CPO)技術發展下的產業挑戰。
隨著 AI、高效能運算(HPC)及先進封裝快速發展,半導體製程持續朝更先進節點與高度整合方向邁進,晶片內部結構與材料組合也愈趨複雜。從研發驗證、問題定位到量產良率提升,分析檢測已不再只是後端確認工具,而是協助研發團隊加速找出問題、縮短開發時程的重要關鍵。
此次專訪中,謝董事長也針對目前產業高度關注的矽光子與 CPO 技術進行分享。隨著高速運算與大量資料傳輸需求持續成長,光電異質整合逐漸成為下一階段重要技術方向,但同時也帶來更高的檢測難度,包括光學與電性元件整合、量測條件差異,以及產業檢測標準尚未完全一致等問題。
尤其當 CPO 技術逐步進入商轉與量產階段,如何有效提升測試效率、提早發現異常並降低後段封裝成本,也成為影響量產良率的重要環節。對分析檢測而言,除了設備能力,更需要跨領域整合材料、結構、電性與失效分析等技術,才能更快速掌握問題根因。
謝董事長於節目中也分享閎康長期深耕材料分析、故障分析、可靠度驗證等領域的經驗。面對半導體技術持續演進,閎康也持續投入先進分析設備與技術能量,因應不同製程、材料與新興應用所帶來的分析需求,協助客戶從研發階段即時釐清問題,提升整體開發效率。
未來,閎康將持續深化先進製程、矽光子與 CPO 相關分析檢測能力,因應半導體產業下一世代技術發展,持續以 The Best R&D Partner 為目標,陪伴客戶從研發驗證走向量產,共同迎接更高階的技術挑戰。
精彩專訪內容,歡迎觀看《台灣大時代》