全球失效分析技術盛會 ISTFA 2026 將於 10/4–10/8 在美國德州聖安東尼奧登場！
閎康科技將再次前進 ISTFA，與來自全球的半導體與失效分析領域專業人士齊聚交流，分享在先進製程、材料分析與失效分析領域的技術經驗與解決方案。
隨著半導體製程持續微縮，以及先進封裝、異質整合與 AI 應用快速發展，分析檢測所面臨的挑戰也日益複雜。從缺陷定位、微結構分析到材料特性解析，如何更快速、精準地找出問題，已成為研發與量產過程中不可或缺的重要環節。
歡迎蒞臨 Booth #800 ，與我們一起交流最新的分析檢測技術與應用！
📅 展會日期：October 6–7, 2026
🏢 展覽地點： Henry B. González Convention Center
📌 MA-tek Booth ：#800
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