AI與高速運算
AI 訓練與高速運算對資料處理速度、能源效率與記憶體頻寬有極高要求,因此 GPU、TPU、NPU 等晶片普遍採用 高密度先進封裝,包含 HBM 堆疊、Chiplet 模組化整合、TSV 穿孔互連與 RDL 重新分佈等架構。
這類封裝具有 高頻、高功率、高熱負載 特性,系統運作時會伴隨 熱傳遲不均、封裝翹曲、界面疲勞、凸塊接合壽命縮短 等風險。若無法及時掌握封裝內部結構、熱行為與材料互動狀況,容易在量產或長期運行階段出現可靠度問題。
閎康科技在 AI 與高速運算領域的核心能力在於:
能同時建立封裝結構真實截面、應力/熱行為模型與失效機制對應。
透過 高解析結構重建、封裝熱行為分析、界面材料追蹤與壽命驗證,協助客戶在研發階段就預先掌握極限條件下的封裝穩定性,降低後段良率損失,並支援產品進入高功率與長時間運算場景。
| 服務方向 | 關注重點 | 適用情境 | 閎康協助 |
|---|---|---|---|
| 多晶粒 / Chiplet 封裝結構重建 | TSV、Micro bump、RDL、HBM 堆疊接合品質 | 先進封裝導入 / 堆疊一致性驗證 | 3DX-Ray、C-SAM、FIB-TEM、層級式結構重建 |
| 封裝熱行為與散熱設計評估 | 熱阻分佈、熱擴散瓶頸、TIM 效能 | 長期運算、伺服器/AI訓練 GPU 高功率場景 | IR 熱像、TIM 厚度分析、FEM 熱模擬、熱衰退評估 |
| 高頻與高速訊號路徑可靠度分析 | 導通界面、互連壽命、應力集中 | 長期運算、伺服器/AI訓練 GPU 高功率場景 | FIB-TEM、XPS、焊點疲勞與應力模型回溯 |
| 超高功率封裝長期壽命與板級驗證 | 翹曲、封裝疲勞、焊點壽命衰退 | HPC / AI Server 量產與認證需求 | FIB-TEM、XPS、焊點疲勞與應力模型回溯 |
常見問題
Q1. 為什麼先進封裝內部的缺陷不易被傳統 X-ray 檢出?
A . 堆疊密度高且材料對比差異小,需更高解析度的三維重建。
Q2. 高功率運算時的熱傳瓶頸如何確認?
A . 需要同時量測熱分佈並分析 TIM 與封裝內部熱阻路徑。
Q3. 為什麼 Chiplet / HBM 模組容易因應力造成開路或翹曲?
A . 異質材料與多層堆疊會在溫度循環中形成應力集中。
Q4. AI 訓練環境中,封裝壽命如何評估?
A . 需透過高功率運算負載模擬與板級可靠度測試模型。
Q5. 研發階段是否能用少量樣品先做封裝可行性評估?
A . 可以,可先進行局部截面與熱行為建模,再決定是否擴大驗證。